AT817 LCR數(shù)字電橋|常州安柏

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

● 測(cè)試參數(shù)：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad） ● 測(cè)試頻率：50Hz~100kHz ● 基本準(zhǔn)確度：0.05% ● 測(cè)試電平：0.1V, 0.3V, 1.0V ● 測(cè)試速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 ● 主副參數(shù)5位顯示

產(chǎn)品型號(hào)：AT817

更新時(shí)間：2017-07-19

廠商性質(zhì)：代理商

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品牌	常州安柏

AT817 LCR 數(shù)字電橋

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常備現(xiàn)貨

AT817 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT817僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技*的技術(shù)，使其性能亦無可挑剔。
內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT817具有傻瓜式操作界面。
內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語言，很容易與計(jì)算機(jī)通訊，完成所有儀器功能。
內(nèi)置Handler接口，配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。

技術(shù)規(guī)格

●	測(cè)試參數(shù)：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad）
●	測(cè)試頻率：50Hz~100kHz
●	基本準(zhǔn)確度：0.05%
●	測(cè)試電平：0.1V, 0.3V, 1.0V
●	測(cè)試速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒
●	主副參數(shù)5位顯示
●	L: 0.01μH-99999H
●	C: 0.01pF - 99999μF
●	R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ?
●	D,Q: 0.00001 - 999999
●	θ（deg）: -90.000°- 90.000°?
●	θ（rad）: -3.1416 – 3.1416
●	Δ%: -99999% - 99999%
●	輸出阻抗：30Ω, 50Ω 100Ω
●	等效電路：串聯(lián), 并聯(lián)
●	9量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試。

性能特征

●	高亮度，超清晰四色VFD顯示。
●	校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零。
●	第三窗口可同時(shí)顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結(jié)果。
●	比較器（分選）功能：內(nèi)建20組分選記錄，P1,P2,P3,NG,AUX 五檔分選結(jié)果顯示和輸出。
●	自定義分選結(jié)果訊響和音量。
●	內(nèi)置RS232C接口和Handler接口。
●	顯示亮度可調(diào)。
●	1000V*沖擊保護(hù)